威海熒光磁粉探傷機生產(chǎn)廠家
發(fā)布時間：2022-04-29 01:43:55
威海熒光磁粉探傷機生產(chǎn)廠家
打開電源按鈕開關(guān)，設備通電，電源指示燈亮，調(diào)整周向和縱向磁化電流，用螺栓直接周向磁化，檢查縱向裂紋，用線圈縱向磁化，檢查周向裂紋，同時磁化周向和縱向可以檢查螺栓表面各個方向的周向和縱向裂紋，磁粉探傷機的方法是連續(xù)法，即噴涂時磁化。操作者在紫外線照射下進行檢查，或發(fā)現(xiàn)有缺陷螺栓明顯缺探傷機陷，這時候，暗白色光強度要求不超過20勒克斯，則照明系統(tǒng)是36W熒光燈，紫外線照射的不小于1000μW/cm2的強度，磁粉探傷機一般為無損探傷，應用于造船，石油，化工，機械，航天，交通和建筑等工業(yè)部門檢查船體，管道，高壓容器，鍋爐，飛機，車輛和橋梁等材料，零部件加工焊接質(zhì)量，以及各種輕金屬，橡膠，陶瓷等加工件的質(zhì)探傷儀量，磁粉探傷儀從測量原理不同可以分為：數(shù)字式超聲波探傷儀，超聲波探傷儀，磁粉探傷儀，渦流探傷儀，射線探傷儀和熒光探傷儀，主要用于探測機加工件內(nèi)部有無缺陷，焊縫是否合格，查找有無暗傷，從而判定工件合格與否。
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單個氣孔回波高度低，波形為單縫，較穩(wěn)定。從各個方向檢測，反射波一般相同，但探頭稍有動作就會消失，密集氣孔中會出現(xiàn)一簇反射波。波高因氣孔大小而異。當探頭定點旋轉(zhuǎn)時，會出現(xiàn)一個接一個的現(xiàn)象。造成這種缺陷的主要原因是焊料未按規(guī)定溫度干燥，焊條藥皮變質(zhì)脫落，焊芯腐蝕，焊絲清洗不干凈，手工焊接時電流過大，電弧過長；埋弧焊時電壓過高或網(wǎng)絡電壓波動過大；氣體保護焊時氣體純度低。如果焊縫中有氣孔，不僅會破壞焊縫金屬的致密性，還會減少焊縫的有效截面積，降低機械性能，尤其是存鏈氣孔時，會顯著降低彎曲和沖擊韌性。防止此類缺陷的措施包括：不使用藥皮開裂、剝落、變質(zhì)、焊芯腐蝕的焊條，必須除銹后才能使用生銹的焊絲。所用焊接材料應按規(guī)定溫度干燥，坡口及其兩側(cè)應清理干凈，并應選擇合適的焊接電流、電弧電壓和焊接速度。
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根據(jù)不同的分類條件，磁粉探傷機一般為無損探傷。探傷機專門用于造船、石油、化工、機械、航天、交通和建筑等工業(yè)部門檢查船體、管道、高壓容器、鍋爐、飛機、車輛和橋梁的材料、零件加工和焊接質(zhì)量，以及各種輕金屬、橡膠和陶瓷加工零件的質(zhì)量。磁粉探傷儀可分為數(shù)字超聲波磁粉探傷儀的知識。1、根據(jù)工件磁化偏差，可分為周向磁化法、縱向磁化法、復合磁化法和旋轉(zhuǎn)磁化法。磁粉探傷儀可分為數(shù)字超聲波探傷儀、超聲波探傷儀、磁粉磁粉探傷儀、渦流探傷儀、射線探傷儀和熒光探傷儀。2、根據(jù)接收磁化電流的不同，可分為：直流磁化、半波直流磁化和交換磁化。3、根據(jù)探傷所接受磁粉的配制差異，可分為干粉法和濕粉法。探傷儀、超聲波探傷儀、磁粉探傷儀、渦流探傷儀、射線探傷儀和熒光探傷儀。
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磁粉探傷機一般為無損探傷機。探傷機專為船舶、石油、化工、機械、航天、交通、建筑等工業(yè)部門檢查船體、管道、高壓容器、鍋爐、飛機、車輛、橋梁等材料、零件加工焊接質(zhì)量，以及各種輕金屬、橡膠、陶瓷等加工件的質(zhì)量，即其作用是檢查磁化物體。為了顯示縱向和圓周破解，圓周激勵方法和樣品采用縱向激勵方法。根據(jù)樣品的形狀和探傷儀的大小，可以采用不同的周激勵形式。類似地，縱向激勵方法可以以不同的方式進行。磁粉分布裝置：在樣品激磁或激磁過程中。在樣品上噴灑磁粉懸浮液或磁粉，肉眼可觀察樣品上顯示的缺陷磁痕。磁粉懸浮液是磁粉和溶液的混合物。作為磁粉，鐵磁性金屬粉末可以用作磁粉。為了使磁粉與檢測表面對比良好，磁粉探傷機主要使用黑色、棕色和磁粉。磁粉懸浮液有兩種溶液，一種是煤油溶液，另一種是水溶液。
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使用熒光磁粉探傷機前，請根據(jù)待檢工件選擇合適的探頭。擰緊輸出電纜探頭，將輸出電纜的另一端連接到面板上的輸出插座并擰緊。將熒光磁粉探傷機的電源線和探頭插入面板上的輸入插座，另一端插入220v單相插座，打開熒光磁粉探傷機面板上的電源開關(guān)。指示燈亮起，控制電路中的電源已打開。手動探頭與待測工件接觸。當磁粉或磁懸浮液噴灑在待檢測工件上時，按下熒光磁粉探傷機探頭手柄上的磁化開關(guān)，打開磁化指示燈，啟動工件；松開按鈕開關(guān)。檢查工件是否有磁性顆粒和裂紋。在磁化過程中，磁性粒子聚集在裂紋處形成磁痕。熒光磁粉探傷機有兩種選擇：交流和DC。
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磁粉探傷機的檢測方法：1、連接儀器和探頭后，打開探傷儀總電源開關(guān)，按操作鍵設置系統(tǒng)狀態(tài)。2、按操作鍵預置年、月、日。3、進入通道預置通道，選擇探傷方式。探頭類型，輸入探頭晶片的尺寸標稱值(斜探頭也輸入前沿距離)。4、將探頭置于CSK-IA型試塊上，調(diào)整儀器“增益”鍵。5、測量或用“零點”鍵預置探頭的零點偏移。6、測量或使用聲速鍵預聲波在工件中傳播的速度(聲速)。7、使用斜探頭時需用“K值”鍵預置K值。8、選擇儀器的刻度定義和大小用“聲程”鍵。9、需要表面補償時，用補償鍵進行補償。10、設置后，按功能鍵進入工作狀態(tài)。11、在被測工件表面涂上耦合劑，將探頭放在被測工件上，移動探頭檢查工件是否有缺陷，用定量鍵凍結(jié)發(fā)現(xiàn)的缺陷，用記錄鍵記錄。12、對檢查到的缺陷進行記錄。