濮陽(yáng)磁粉探傷機(jī)多少錢(qián)
發(fā)布時(shí)間：2022-02-09 01:47:36
濮陽(yáng)磁粉探傷機(jī)多少錢(qián)
磁場(chǎng)檢測(cè)可分為殘余磁場(chǎng)檢測(cè)和有源磁場(chǎng)檢測(cè)。由于鐵磁材料都具有一定的矯頑力，因此它們會(huì)被DC磁場(chǎng)磁化。撤回磁化磁場(chǎng)源后，殘留磁場(chǎng)將保留在材料中。RFT方法使用剩余磁場(chǎng)形成磁場(chǎng)信號(hào)并對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)。由于殘余磁場(chǎng)的強(qiáng)度通常較弱，RFT方法需要使用高靈敏度的磁電轉(zhuǎn)換設(shè)備來(lái)測(cè)量磁場(chǎng)信號(hào)。檢測(cè)過(guò)程分為三個(gè)步驟。一是磁化并破壞材料或組件：二是測(cè)量磁場(chǎng)信號(hào)：三是在需要時(shí)對(duì)被測(cè)物體消磁。以上三個(gè)步驟一般是分開(kāi)進(jìn)行的。
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探傷機(jī)的功能配置確認(rèn)：（1）磁粉探傷機(jī)的電器元件是否采用廠方標(biāo)配或另有品牌要求。按鈕開(kāi)關(guān)、指示燈、PLC、繼電器、電控元件中的分合開(kāi)關(guān)均分為國(guó)產(chǎn)、國(guó)產(chǎn)、純進(jìn)口品牌，需方可按需提出配置要求。（2）磁粉探傷機(jī)的電控功能，有按鍵式控制和觸摸屏式顯控兩種，可根據(jù)需要選配。（3）配備高強(qiáng)度紫外線黑光燈，需要確認(rèn)是標(biāo)準(zhǔn)配置還是另有形式要求。高強(qiáng)度紫外線燈有三種形式:普通燈、金屬鹵素?zé)襞莺蚅ED，其中LED是新開(kāi)發(fā)的新型冷光源檢測(cè)燈。（4）采用紫外燈檢測(cè)時(shí)，需對(duì)配套暗室形式進(jìn)行確認(rèn)。磁粉探傷機(jī)制造商的技術(shù)人員在確定技術(shù)參數(shù)和功能配置后，會(huì)給出詳細(xì)的技術(shù)方案。還需要與磁粉探傷機(jī)廠家的技術(shù)人員一起對(duì)技術(shù)方案進(jìn)行詳細(xì)的研究和定型。
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單個(gè)氣孔回波高度低，波形為單縫，較穩(wěn)定。從各個(gè)方向檢測(cè)，反射波一般相同，但探頭稍有動(dòng)作就會(huì)消失，密集氣孔中會(huì)出現(xiàn)一簇反射波。波高因氣孔大小而異。當(dāng)探頭定點(diǎn)旋轉(zhuǎn)時(shí)，會(huì)出現(xiàn)一個(gè)接一個(gè)的現(xiàn)象。造成這種缺陷的主要原因是焊料未按規(guī)定溫度干燥，焊條藥皮變質(zhì)脫落，焊芯腐蝕，焊絲清洗不干凈，手工焊接時(shí)電流過(guò)大，電弧過(guò)長(zhǎng)；埋弧焊時(shí)電壓過(guò)高或網(wǎng)絡(luò)電壓波動(dòng)過(guò)大；氣體保護(hù)焊時(shí)氣體純度低。如果焊縫中有氣孔，不僅會(huì)破壞焊縫金屬的致密性，還會(huì)減少焊縫的有效截面積，降低機(jī)械性能，尤其是存鏈氣孔時(shí)，會(huì)顯著降低彎曲和沖擊韌性。防止此類(lèi)缺陷的措施包括：不使用藥皮開(kāi)裂、剝落、變質(zhì)、焊芯腐蝕的焊條，必須除銹后才能使用生銹的焊絲。所用焊接材料應(yīng)按規(guī)定溫度干燥，坡口及其兩側(cè)應(yīng)清理干凈，并應(yīng)選擇合適的焊接電流、電弧電壓和焊接速度。
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磁粉探傷機(jī)的檢測(cè)方法：1、連接儀器和探頭后，打開(kāi)探傷儀總電源開(kāi)關(guān)，按操作鍵設(shè)置系統(tǒng)狀態(tài)。2、按操作鍵預(yù)置年、月、日。3、進(jìn)入通道預(yù)置通道，選擇探傷方式。探頭類(lèi)型，輸入探頭晶片的尺寸標(biāo)稱值(斜探頭也輸入前沿距離)。4、將探頭置于CSK-IA型試塊上，調(diào)整儀器“增益”鍵。5、測(cè)量或用“零點(diǎn)”鍵預(yù)置探頭的零點(diǎn)偏移。6、測(cè)量或使用聲速鍵預(yù)聲波在工件中傳播的速度(聲速)。7、使用斜探頭時(shí)需用“K值”鍵預(yù)置K值。8、選擇儀器的刻度定義和大小用“聲程”鍵。9、需要表面補(bǔ)償時(shí)，用補(bǔ)償鍵進(jìn)行補(bǔ)償。10、設(shè)置后，按功能鍵進(jìn)入工作狀態(tài)。11、在被測(cè)工件表面涂上耦合劑，將探頭放在被測(cè)工件上，移動(dòng)探頭檢查工件是否有缺陷，用定量鍵凍結(jié)發(fā)現(xiàn)的缺陷，用記錄鍵記錄。12、對(duì)檢查到的缺陷進(jìn)行記錄。