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開封磁粉探傷機生產(chǎn)廠家

發(fā)布時間:2023-09-16 01:29:55
開封磁粉探傷機生產(chǎn)廠家

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磁粉探傷儀適用范圍。1、適用于檢測鐵磁性材料工件表面和近表面尺寸小、間隙窄、目視不可見缺陷的裂紋。2、適用于馬氏體不銹鋼及沉淀硬化不銹鋼材料的檢驗,不適合檢驗奧氏體不銹鋼材料。3、適用于測試原材料(如毛坯)和半成品、成品、磁粉探傷儀和使用部件。4、適用于檢測管件和桿形金屬板鑄件和鍛件的焊接。磁粉探傷機一般為無損探傷機。探傷機專為船舶、石油、化工、機械、航天、交通、建筑等工業(yè)部門檢查船體、管道、高壓容器、鍋爐、飛機、車輛、橋梁等材料、零件加工焊接質(zhì)量,以及各種輕金屬、橡膠、陶瓷等加工件的質(zhì)量。

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磁粉探傷機根據(jù)結(jié)構(gòu)可分為一體式和分立式,一體式由磁化電源、夾持、磁粉施加、觀察、退磁等組成。分立式是指探傷機的各個組成部分,根據(jù)功能制成單獨的分立裝置,在探傷時組成系統(tǒng)。無論是一體式還是分立式,一般包括:產(chǎn)生磁場,使工件磁化磁化電源,使磁化電流或磁場進(jìn)入工件,使工件必要磁化工件夾持裝置、磁化電流及相關(guān)工作指示控制裝置、磁粉和磁懸液儲存施加裝置和退磁裝置。固定式探傷機又叫床式設(shè)備,通常用于濕法檢查,其體積和重量較大,額定周向磁化電流從1000A到15000A不等??商峁┲萍枰拇呕娏骰虼呕苍褦?shù),對試件可實施圓周、縱向或多方向磁化。磁化電流可以是交流電流,也可以是整流電流。同時,可調(diào)節(jié)機器的電流和夾頭距離,對中小試件進(jìn)行整體磁化和批量檢查。

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磁粉探傷檢測是一種無損檢測方法,用于檢測磁性材料表面或近表面的損傷。通常檢測的部件為耐壓容器件、焊接件、維修件和半成品。那么熒光磁粉探傷機應(yīng)該在什么樣的環(huán)境下工作運行呢?1、環(huán)境溫度為0°C?40°C;2、環(huán)境相對濕度不大于80%;3、電源電壓波動不超過其額定值的±10%;4、周圍無大量塵埃、無易燃物質(zhì)、無腐蝕性氣體;5、周圍無較強的電磁場干擾。影響磁粉探傷機靈敏度的主要因素有哪些?① 磁場的大小和方向;② 磁化方法的挑選;③ 磁粉的挑選;④ 磁懸液的濃度;⑤ 設(shè)備的功能;⑥ 工件形狀和表面粗糙度;⑦ 磁化時間與操作⑧ 缺點的性質(zhì)與形狀;⑨ 探傷人員的本質(zhì);⑩ 照明條件。

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AFT方法將被測物體的磁化與磁場信號的測量相結(jié)合,通過磁源對被測物體進(jìn)行磁化,同時進(jìn)行磁場信號的測量。因此,AFT方法主要由兩部分組成。一種是將鐵磁材料磁化的磁化裝置,稱為磁化器。另一部分是磁場信號測量裝置,稱為檢測探頭或探頭套件。根據(jù)勵磁機中的不同磁源,勵磁機可采用交變探傷儀的磁場磁化法和恒磁場磁化法,其中有兩種DC有源磁場源(如DC電磁鐵)和永磁體。由于皮膚收集效應(yīng),當(dāng)交變磁場磁化時,磁場線將集中在待測材料的表面。因此,它對磁性粒子探傷儀材料的表面或近表面有很高的檢測靈敏度,但不能檢測到較深的狀態(tài)。在使用中,交變磁場的速率通常在幾千赫茲以內(nèi)。頻率越低,磁場的穿透能力越強,檢測到的深度越深。交變磁場磁化后,鐵磁材料中不會產(chǎn)生殘留磁性,因此檢測后無需對材料進(jìn)行消磁。當(dāng)用恒定磁場磁化時,內(nèi)外狀態(tài)的可檢測性與磁化強度直接相關(guān)。磁場越強,磁場信號越強,飽和磁化強度趨于恒定。在某些測試站中,必須在測試后將材料消磁。

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磁粉探傷機的自我檢查是非常重要的。例如,一些焊工會在槽基材料的基材上隨機飛濺或劃痕。因此,如果焊工能在自檢后及時修復(fù)焊接,將節(jié)省我們很多時間,如果外咬邊緣通常更容易識別,如果咬邊緣通常是關(guān)節(jié)沒有通過線的地方,但由于母角,如果咬邊緣清晰,支持熔池邊緣膜形成的黑色,應(yīng)更好地識別。如果你懷疑自己的判斷,去現(xiàn)場看一下焊縫??傊?,超聲波探傷機行業(yè)對檢查員的經(jīng)驗要求很高,射線探傷也不例外。觀察,為便于檢測粘貼在疤痕上的磁粉圖像,需要創(chuàng)造一個易于檢測的環(huán)境。一般磁粉需要在盡可能明亮的條件下觀察,熒光磁粉需要使用紫外線照射燈盡可能地在黑暗中觀察空間。后期處理,磁粉探傷機完成后,探傷物很可能仍然被用作產(chǎn)品或需要送到另一個加工程序進(jìn)行機械加工。

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磁粉探傷機的檢測方法:1、連接儀器和探頭后,打開探傷儀總電源開關(guān),按操作鍵設(shè)置系統(tǒng)狀態(tài)。2、按操作鍵預(yù)置年、月、日。3、進(jìn)入通道預(yù)置通道,選擇探傷方式。探頭類型,輸入探頭晶片的尺寸標(biāo)稱值(斜探頭也輸入前沿距離)。4、將探頭置于CSK-IA型試塊上,調(diào)整儀器“增益”鍵。5、測量或用“零點”鍵預(yù)置探頭的零點偏移。6、測量或使用聲速鍵預(yù)聲波在工件中傳播的速度(聲速)。7、使用斜探頭時需用“K值”鍵預(yù)置K值。8、選擇儀器的刻度定義和大小用“聲程”鍵。9、需要表面補償時,用補償鍵進(jìn)行補償。10、設(shè)置后,按功能鍵進(jìn)入工作狀態(tài)。11、在被測工件表面涂上耦合劑,將探頭放在被測工件上,移動探頭檢查工件是否有缺陷,用定量鍵凍結(jié)發(fā)現(xiàn)的缺陷,用記錄鍵記錄。12、對檢查到的缺陷進(jìn)行記錄。